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AES-8000全譜交直流電弧發(fā)(fā)射光譜儀系列圖文資料庫

產(chǎn)品名稱	型號規(guī)格/主要參數(shù)	牌價	惠后單價	圖片	備注/說明	操作
型號:AES-8000
全譜交直流電弧發(fā)射光譜儀	型號:AES-8000；垂直對稱式Ebert-Fastic,三透鏡復合聚焦光路；光路焦距:600mm；平面光柵(JY):2400條/mm；色散率:0.65nm/mm(一級)；光學分辨率:理論0.006nm(300nm),實際25pm；波段范圍:230～340nm；波長準確度:±0.006nm(實時校正)；波長重復性:≤0.001nm(實時尋峰)；采集系統(tǒng):高性能CMOS傳感器基于FPGA技術的同步高速采集系統(tǒng),實現(xiàn)全譜自動測量,同時具備譜線位置動態(tài)校正、分子光譜背景動態(tài)扣除；光源:交/直流電弧(兩用),引燃方式:高壓脈沖；電流范圍:交流(2～20A)、直流(2～15A) 電極夾:具冷循環(huán),自動校準,自動控溫22±2℃；分光室恒溫系統(tǒng)自動控溫:35℃±0.1℃；進樣方式:固體粉末直接進樣,無需化學消解；定量分析時間:≤60秒/樣品(元素不同時間有差異) 測控系統(tǒng)穩(wěn)定性:RSD≤0.1%；中文分析軟件,適windows操作系統(tǒng),專對有色、材料等行業(yè)特定微量及痕量元素快速檢測分析設計, 軟件主要功能: 譜線位置自動實時校正,重峰自動識別、分離, 自動扣背景、內(nèi)標,內(nèi)置蒸發(fā)曲線功能, 多種擬合方式、算法,標準曲線建立, 日常分析,打印、存儲,歷史數(shù)據(jù)處理等；具有中華人民共和國制造計量器具許可證；配置:主機(內(nèi)置光學、測控系統(tǒng),電弧發(fā)生器、自動對準水冷電極架)1臺,冷卻循環(huán)水機1臺,操作軟件1套,自研緩沖劑1瓶,電腦1臺,激光打印機1臺；	690000	620000		儀器用途 1.適用于地球化學樣品中Ag、Sn、B、Mo、Pb、Zn等元素的測定； 2.適用于氧化鎢粉末樣品中Al 、Mn、As、Mo、Bi、Ni、Ca 、Pb、Cd、Sb、Co、Si、Cr、Sn、Cu、Ti、Fe、V、Mg等雜質(zhì)元素的測定。 3.適用于氧化鉬粉末樣品中Al 、Mn、Mo、Bi、Ni、Ca、Pb、Cd、Sb、Co、Si、Cr、Sn、Cu、Ti、Fe、V、Mg等雜質(zhì)元素的測定。臺式儀器,重量小于180K

產(chǎn)品名稱

型號規(guī)格/主要參數(shù)

牌價

惠后單價

圖片

備注/說明

操作

型號:AES-8000

全譜交直流電弧發(fā)射光譜儀

型號:AES-8000；

垂直對稱式Ebert-Fastic,三透鏡復合聚焦光路；

光路焦距:600mm；*平面光柵(JY):2400條/mm；

*色散率:0.65nm/mm(一級)；

光學分辨率:理論0.006nm(300nm),實際25pm；

波段范圍:230～340nm；

波長準確度:±0.006nm(實時校正)；

波長重復性:≤0.001nm(實時尋峰)；

采集系統(tǒng):高性能CMOS傳感器基于FPGA技術的同步高速采集系統(tǒng),實現(xiàn)全譜自動測量,同時具備譜線位置動態(tài)校正、分子光譜背景動態(tài)扣除；

*光源:交/直流電弧(兩用),引燃方式:高壓脈沖；

電流范圍:交流(2～20A)、直流(2～15A)

*電極夾:具冷循環(huán),自動校準,自動控溫22±2℃；

*分光室恒溫系統(tǒng)自動控溫:35℃±0.1℃；

*進樣方式:固體粉末直接進樣,無需化學消解；

定量分析時間:≤60秒/樣品(元素不同時間有差異)

*測控系統(tǒng)穩(wěn)定性:RSD≤0.1%；

中文分析軟件,適windows操作系統(tǒng),專對有色、材料等行業(yè)特定微量及痕量元素快速檢測分析設計,

軟件主要功能:

譜線位置自動實時校正,重峰自動識別、分離,

自動扣背景、內(nèi)標,內(nèi)置蒸發(fā)曲線功能,

多種擬合方式、算法,標準曲線建立,

日常分析,打印、存儲,歷史數(shù)據(jù)處理等；

*具有中華人民共和國制造計量器具許可證；

配置:主機(內(nèi)置光學、測控系統(tǒng),電弧發(fā)生器、自動對準水冷電極架)1臺,冷卻循環(huán)水機1臺,操作軟件1套,自研緩沖劑1瓶,電腦1臺,激光打印機1臺；

690000

620000

儀器用途

1.適用于地球化學樣品中Ag、Sn、B、Mo、Pb、Zn等元素的測定；

2.適用于氧化鎢粉末樣品中Al 、Mn、As、Mo、Bi、Ni、Ca 、Pb、Cd、Sb、Co、Si、Cr、Sn、Cu、Ti、Fe、V、Mg等雜質(zhì)元素的測定。

3.適用于氧化鉬粉末樣品中Al 、Mn、Mo、Bi、Ni、Ca、Pb、Cd、Sb、Co、Si、Cr、Sn、Cu、Ti、Fe、V、Mg等雜質(zhì)元素的測定。

臺式儀器,重量小于180K

AES-8000全譜交直流電弧發(fā)(fā)射光譜儀技術特點
AES-8000全譜交直流電弧發(fā)(fā)射光譜儀技術特點	1.儀器能夠滿足《多目標地球化學調(diào)查(1:250000)土壤樣品化學成分分析》DZ/T 0130.5—2006 標準的要求，且能夠達到 DZ/T 0258-2014《多目標區(qū)域地球化學調(diào)查規(guī)范(1:250000)》相關要求。 2.儀器能夠滿足 YS/T 559-2009 《鎢的發(fā)射光譜分析法》相關要求。 3.儀器能夠滿足 YS/T 558-2009 《鉬的發(fā)射光譜分析法》相關要求。	適用型號

AES-8000全譜交直流電弧發(fā)(fā)射光譜儀技術特點

1.儀器能夠滿足《多目標地球化學調(diào)查(1:250000)土壤樣品化學成分分析》DZ/T 0130.5—2006 標準的要求，

且能夠達到 DZ/T 0258-2014《多目標區(qū)域地球化學調(diào)查規(guī)范(1:250000)》相關要求。

2.儀器能夠滿足 YS/T 559-2009 《鎢的發(fā)射光譜分析法》相關要求。

3.儀器能夠滿足 YS/T 558-2009 《鉬的發(fā)射光譜分析法》相關要求。

適用型號

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AES-8000全譜交直流電弧發(fā)(fā)射光譜儀 系列圖文資料庫

AES-8000全譜交直流電弧發(fā)(fā)射光譜儀系列圖文資料庫